Aehr Test Systems, Inc. leverer testløsninger til test, brænding og halvleder-enheder på wafer-niveau, singulerede chips, pakke dele og installerede systemer verden over. Dets produktportefølje inkluderer FOX-XP og FOX-NP systemer, der er fuld wafer kontakt og singuleret chip/modul test- og brændesystemer, der kan teste, brænde ind og stabilisere en række enheder, herunder silicon carbid-baserede og andre effekt-halvledere, 2D og 3D sensorer, der bruges i mobiltelefoner, tablets og andre computer-enheder, hukommelses-halvledere, processorer, mikrocontrollere, systemer-på-en-chip og fotonik og integrerede optiske enheder. Virksomheden tilbyder også FOX-CP systemet, en omkostningseffektiv enkelt-wafer kompakt testløsning til logik, hukommelse og fotoniske enheder; og FOX WaferPak Kontaktor, en fuld wafer kontaktor, der kan teste wafere op til 300 mm, hvilket gør det muligt for integrerede kreditsproducenter at udføre test, brænding og stabilisering af fulde wafere på FOX-P systemerne. Derudover leverer den FOX DiePak Carrier, som muliggør test, brænding og stabilisering af singulerede bare chips og moduler; samt FOX DiePak Loader. Virksomheden blev stiftet i 1977 og har hovedkvarter i Fremont, Californien.