Camtek Ltd., sammen med sine datterselskaber, udvikler, fremstiller og sælger inspektions- og metrologiafudstyr til halvlederindustrien. Virksomheden tilbyder Eagle-i, et system der leverer 2D inspektions- og metrologikapaciteter; Eagle-AP, som henvender sig til det avancerede emballagemarked ved hjælp af software- og hårdvarerteknologier, der leverer overlegen 2D- og 3D-inspektions- og metrologikapaciteter på samme platform; og Golden Eagle, et panelinspektions- og metrologisystem til at tackle udfordringerne ved fanout wafer level packaging applikationer. Den udvikler også automatisk defektklassifikation, som giver automatisk defektklassifikation af farvebilleder ved hjælp af dybdelæringsteknikker for at reducere og eliminere manuel verifikation. Derudover tilbyder virksomheden MicroProf AP, et wafer metrologiværktøj til anvendelser ved 3D emballageprocesser; MicroProf DI, et optisk inspektionsværktøj der muliggør inspektion af strukturerede og ustrukturerede wafere til fremstillingsprocessen; MicroProf FE, et 2D/3D wafer metrologiværktøj der betjener front-end HVM fabrik; MicroProf FS, et wafer metrologiværktøj konfigurerbart til wafer foundry; MicroProf PT til hybride metrologiapplikationer til almindelige panelstørrelser; MicroProf MHU metrologiværktøj, en materialehåndteringsenhed til halvleder-, MEMS-, safir- og LED-industrier; MicroProf TL, et optisk overflademålingsværktøj til fuldautomatiske 3D-overflademålinger; MicroProf 100, et universelt overflademetrologiværktøj til bestemmelse af topografi samt film- og prøvetykkelse; MicroProf 200, et måleinstrument til kontaktløs og ikke-destruktiv karakterisering af overflader og film; og MicroProf 300, en SurfaceSens-teknologi til kvalitetskontrol, udvikling og fremstilling. Virksomheden betjener halvlederproducenter, outsourcet halvledermontage og test, integrerede enhedsproducenter og wafer level packaging underleverandører. Camtek Ltd. blev grundlagt i 1987 og har hovedkontor i Migdal Haemek, Israel.