KLA Corporation, sammen med sine datterselskaber, arbejder med design, fremstilling og markedsføring af proceskontrol-, procesmuliggørende og udbytteforvaltningsløsninger til halvleder- og relaterede elektronikindustrier verden over. Det opererer gennem tre segmenter: Semiconductor Process Control; Specialty Semiconductor Process; og PCB- og komponentinspektion. Virksomheden tilbyder inspektions- og gennemgangsværktøjer til at identificere, lokalisere, karakterisere, gennemgå og analysere defekter på forskellige overflader af mønstrede og umønstrede wafers; metrologisystemer der bruges til at måle mønsterdimensioner, filmm tykkelse, filmm stress, lag-til-lag justering, mønsterplacering, overfladetopografi og elektro-optiske egenskaber for wafere; kemisk proceskontroludstyr; kablede og trådløse sensorskiver og masker; wafer defektinspektions-, gennemgangs- og metrologisystemer; maskeinspektions- og metrologisystemer; samt halvledersoftwareløsninger der muliggør proceskontrol i realtid, identifikation af defektsejre, proceskorrektioner og defektklassificering for at accelerere udbytteindlæringsrater og reducere produktionsrisiko. Det leverer også ætching-, plasma skæring-, deponering- og andre waferbehandlingsteknologier og -løsninger til halvleder- og mikroelektronikindustrien. Derudover tilbyder virksomheden direkte billeddannelse, inspektion, optisk formgivning, inkjet- og additive trykteknologier, UV-laserboring samt computer-genereret fremstilling og ingeniørløsninger til PCB-markedet; inspektions- og elektriske testsystemer til at identificere og klassificere defekter, samt systemer til reparation af defekter til displaymarkedet; og inspektions- og metrologisystemer til kvalitetskontrol og forbedring af udbytte på avancerede og traditionelle halvlederpakke markeder. Virksomheden var tidligere kendt som KLA-Tencor Corporation og ændrede navn til KLA Corporation i juli 2019. KLA Corporation blev stiftet i 1975 og har hovedkontor i Milpitas, Californien.